[发明专利]一种新型的抗单粒子翻转SRAM存储单元有效

专利信息
申请号: 201210222441.7 申请日: 2012-06-29
公开(公告)号: CN102723109A 公开(公告)日: 2012-10-10
发明(设计)人: 张国和;姚思远;李剑雄;赵晨;顾亦熹 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G11C11/413 分类号: G11C11/413
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 徐文权
地址: 710049 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种新型的抗单粒子翻转的SRAM存储单元,包括依次串联的第一输入输出端口、第一电位翻转恢复驱动电路、电压保持电路、第二电位翻转恢复驱动电路、第二输入输出端口。本发明可以实现敏感节点遭受高能粒子轰击,发生电压翻转时的自动恢复功能。根据TSMC 0.18um工艺模拟结果,本发明可以实现翻转阈值LETth大于500MeV/(mg·cm2);与现有的抗单粒子翻转存储单元比较,具有写入速度快的特点;能够有效缩短了恢复时间;采用单向时钟和小时钟摆幅,时钟网络比较简单,可靠性较高;时钟只与读写晶体管栅极连接,时钟负载比较小;敏感节点对分别位于P型管与N型管的漏极对单粒子引起的多节点翻转有一定的加固作用。
搜索关键词: 一种 新型 粒子 翻转 sram 存储 单元
【主权项】:
一种新型抗单粒子翻转的SRAM存储单元,包括依次串联的第一输入输出端口、第一电位翻转恢复驱动电路、电压保持电路、第二电位翻转恢复驱动电路、第二输入输出端口;其特征在于:所述第一、第二输入输出端口分别通过一个NMOS管分别与第一、第二电位翻转恢复驱动电路连接;所述第一、第二电位翻转恢复驱动电路均由一个上拉PMOS管与下拉NMOS管构成;所述电压保持电路由两个稳定结构联接组成,分别为一个由四个PMOS管组成的第一稳定结构和一个由四个NMOS管组成的第二稳定结构;第一稳定结构中:第一PMOS和第三PMOS管的源极均连接的电源正极,第一PMOS管的栅极与第三PMOS管的漏极连接到一节点Pb,第一PMOS管的漏极与第三PMOS管的栅极连接到一节点P;第二PMOS管与第四PMOS管的栅极均与电源负极相连,第二PMOS管的源极连接到节点P,第四PMOS管的源极连接到节点Pb;第二稳定结构中:第一NMOS管和第三NMOS管的栅极连接到电源正极,第一NMOS管的漏极与所述第二PMOS管的漏极相连、源极连接到一节点N,第三NMOS管的漏极与所述第四PMOS管的漏极相连、源极连接到一节点Nb;第二NMOS管和第四NMOS管的源极连接到电源负极,第二NMOS管的漏极和第四NMOS管的栅极连接到节点N,第二NMOS管的栅极和第四NMOS管的漏极连接到节点Nb。
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