[发明专利]专用于检测传感器圆度的设备无效
申请号: | 201210217153.2 | 申请日: | 2012-06-28 |
公开(公告)号: | CN103512605A | 公开(公告)日: | 2014-01-15 |
发明(设计)人: | 杨和荣 | 申请(专利权)人: | 成都长迪传感技术有限公司 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00;G01B7/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610000 四川省成都市*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种专用于检测传感器圆度的设备,包括底座,所述底座上设置有旋转台和立柱,且立柱垂直设置在底座上,所述立柱上设置有滑动臂,且滑动臂一端穿过立柱内部,另一端的端面上设置有支撑臂,所述支撑臂上设置有探针,且探针设置在旋转台的正上方。该设备结构简单,制作成本低,结构紧凑,减轻了操作人员的劳动强度,能够准确地对传感器的圆度进行检测,精确的检测结果避免了低劣传感器的漏检,提高了传感器的质量,缩短了检测的周期,提高了传感器的生产效率,而且能够满足工厂等加工场所的使用。 | ||
搜索关键词: | 专用 检测 传感器 设备 | ||
【主权项】:
专用于检测传感器圆度的设备,其特征在于:包括底座(12),所述底座(12)上设置有旋转台(11)和立柱(5),且立柱(5)垂直设置在底座(12)上,所述立柱(5)上设置有滑动臂(2),且滑动臂(2)一端穿过立柱(5)内部,另一端的端面上设置有支撑臂(7),所述支撑臂(7)上设置有探针(9),且探针(9)设置在旋转台(11)的正上方。
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