[发明专利]一种低气压下弱吸附气体在大块体纳米孔材料中有效扩散系数的测定装置有效
申请号: | 201210206441.8 | 申请日: | 2012-06-21 |
公开(公告)号: | CN102706778A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
发明(设计)人: | 张睿;金鸣林;徐耀民 | 申请(专利权)人: | 上海应用技术学院 |
主分类号: | G01N13/04 | 分类号: | G01N13/04;G01N7/10 |
代理公司: | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人: | 吴宝根 |
地址: | 200235 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种低气压下弱吸附气体在大块体纳米孔材料中有效扩散系数的测定装置及其应用,所述的测定装置包括真空容器系统、数据采集系统和供气瓶等组成,其中真空容器系统由样品池、供气池、参比池、标定池、缓冲罐和真空泵组成,样品池通过管道经阀门后与供气池连接,供气池上设有一路管道通过阀门与参比池连接,供气池上还设有一路管道通四通后分别经阀门与标定池、缓冲罐及真空泵相连;缓冲罐通过管道经阀门与供气瓶相连;数据采集系统包括数据采集器及其与其相连的计算机,数据采集器采集数据过来后送入与其相连的计算机。该装置结构简单,适用于低气压下弱吸附气体在大块体纳米孔材料中的有效扩散系数测定。 | ||
搜索关键词: | 一种 压下 吸附 气体 块体 纳米 材料 有效 扩散系数 测定 装置 | ||
【主权项】:
一种低气压下弱吸附气体在大块体纳米孔材料中有效扩散系数的测定装置,其特征在于所述的低气压下弱吸附气体在大块体纳米孔材料中有效扩散系数的测定装置由真空容器系统、温度控制和测定系统、动态压力测定系统、数据采集系统和供气瓶组成; 所述的真空容器系统由样品池、供气池、参比池、标定池、缓冲罐和真空泵组成,供气池与样品池的体积比为2‑3:1;所述的样品池通过管道经阀门后与供气池连接,供气池上设有一路管道通过阀门与参比池连接,供气池上还设有一路管道经四通后分别经阀门与标定池、缓冲罐及真空泵相连;所述的缓冲罐上还设有一管道经阀门与供气瓶相连,另外,缓冲罐池上还设有一实现放空的阀门;所述的动态压力测定系统即包括参比池上设有的绝压计、参比池与供气池间设有的差压计及样品池与参比池间设有的差压计; 所述的温度控制和测定系统包括恒温箱、供气池测温传感器和样品池测温传感器及样品池恒温炉;上述的供气池,参比池,标定池,缓冲罐及附属管道、阀门和和测量仪表均放置在恒温箱内; 所述的数据采集系统包括数据采集器及与其相连的计算机,数据采集器将参比池上的绝压计、参比池与供气池间的差压计、参比池与样品池间的差压计、供气池测温传感器和样品池测温传感器发送的数据采集过来后送入与其相连的计算机。
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