[发明专利]一种光学场干涉位相差的锁定方法和装置有效
| 申请号： | 201210199387.9 | 申请日： | 2012-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN102706463A | 公开（公告）日： | 2012-10-03 |
| 发明（设计）人： | 苏晓龙;贾晓军;郝树宏;张天才;彭堃墀 | 申请（专利权）人： | 山西大学 |
| 主分类号： | G01J9/02 | 分类号： | G01J9/02;G02F1/35 |
| 代理公司： | 山西五维专利事务所(有限公司) 14105 | 代理人： | 杨耀田 |
| 地址： | 030006 山*** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种光学场干涉位相差的锁定方法，是将光电探测器输出的直流信号与混频器输出的具有正弦形式的微分信号相加或相减，获得锁定光学场任意干涉位相差的误差信号；将所获得的误差信号经过比例积分控制器和高压放大器反馈到光路中的压电陶瓷上，完成光学场任意干涉位相差的锁定。本发明还提供了实现上述光学场干涉位相差锁定方法的装置，该装置可用于两束光学场以任意位相差耦合；也可用于测量任意角度的光学场正交分量的量子起伏，优化量子逻辑操作和量子计算的结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 干涉 相差 锁定 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种光学场干涉位相差的锁定方法，是将光电探测器输出的直流信号与混频器输出的具有正弦形式的微分信号相加或相减，获得锁定光学场任意干涉位相差的误差信号；将所获得的误差信号经过比例积分控制器和高压放大器反馈到光路中的压电陶瓷上，完成光学场任意干涉位相差的锁定。
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