[发明专利]智能测试系统及方法无效
申请号: | 201210197971.0 | 申请日: | 2012-06-15 |
公开(公告)号: | CN103513174A | 公开(公告)日: | 2014-01-15 |
发明(设计)人: | 余小光 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种智能测试系统及方法,该系统包括:读取模块,用于从数据库中读取测试设备的一个功能性配件的各项性能指标测试结果;计算模块,用于根据所读取的性能指标测试结果计算每项性能指标的通过率;分析调整模块,用于分析每项性能指标的通过率并调整各项性能指标的测试频率;控制模块,用于控制每项性能指标根据调整后的测试频率进行测试。利用本发明可有效减少主板测试时间。 | ||
搜索关键词: | 智能 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种智能测试系统,其特征在于,该系统包括:读取模块,用于从数据库中读取测试设备的一个功能性配件的各项性能指标测试结果;计算模块,用于根据所读取的性能指标测试结果计算每项性能指标的通过率;分析调整模块,用于分析每项性能指标的通过率并调整各项性能指标的测试频率;控制模块,用于控制每项性能指标根据调整后的测试频率进行测试。
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