[发明专利]微孔膜孔隙率测量方法有效
| 申请号： | 201210166897.6 | 申请日： | 2012-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN103454197A | 公开（公告）日： | 2013-12-18 |
| 发明（设计）人： | 刘永辉;吴振东;于伟翔;江历阳;林雯 | 申请（专利权）人： | 中国原子能科学研究院 |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08;G01N23/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102413 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种微孔膜孔隙率的测量方法。该方法将α射线通过待测微孔膜，通过α射线能谱确定通过待测微孔膜而无能量损失部分的α粒子计数率N1，以及α射线总的α粒子计数率N，则微孔膜的孔隙率η为N1/N。这种测量方法不仅简便，还容易实现在线检测。 | ||
| 搜索关键词： | 微孔 孔隙率 测量方法 | ||
【主权项】：
一种微孔膜孔隙率测量方法，将α射线通过待测微孔膜（2），通过α射线能谱确定通过待测微孔膜（2）而无能量损失部分的α粒子计数率N1，以及α射线总的α粒子计数率N，则微孔膜的孔隙率η为η= N1/N，η的单位是%；N1和N的单位是s‑1。
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