[发明专利]光学量测系统及承载结构与光学量测方法有效
| 申请号： | 201210149259.3 | 申请日： | 2012-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN103323104A | 公开（公告）日： | 2013-09-25 |
| 发明（设计）人： | 洪健翔;叶展良 | 申请（专利权）人： | 台湾超微光学股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/00 | 分类号： | G01J1/00;G01J1/04 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 臧建明 |
| 地址： | 中国台湾新*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学量测系统及承载结构与光学量测方法，其中该光学量测系统，包括光检测模块及信号整合单元。光检测模块针对多个发光区在多个不同的检测位置分别检测至少部分这些发光区的光强度，以得到分别对应于这些检测位置的多个光强度信号。信号整合单元整合这些光强度信号，以得到与这些发光区相关的整体光强度评估值。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 系统 承载 结构 方法 | ||
【主权项】：
一种光学量测系统，其特征在于，包括：光检测模块，针对多个发光区，在多个不同的检测位置分别检测至少部分该多个发光区的光强度，以得到分别对应于该多个检测位置的多个光强度信号；以及信号整合单元，整合该多个光强度信号，以得到与该多个发光区相关的整体光强度评估值。
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