[发明专利]原子力显微镜的力示踪方法有效
| 申请号： | 201210146642.3 | 申请日： | 2012-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN102662087A | 公开（公告）日： | 2012-09-12 |
| 发明（设计）人： | 王宏达;潘延刚;蒋俊光;单玉萍;蔡明军 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春应用化学研究所 |
| 主分类号： | G01Q60/24 | 分类号： | G01Q60/24;G01Q60/26 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人： | 张伟 |
| 地址： | 130022 吉林*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 原子力显微镜的力示踪方法，涉及微观力测量方法技术领域，解决了现有的AFM单分子力谱法检测到的力信号容易被认为是AFM探针本身运动产生的而不是细胞表面上的动态过程产生的问题。原子力显微镜的力示踪方法，在反馈调节系统的控制下完成进针后，关闭反馈调节系统，通过得到的力-距离曲线确定AFM探针和被测物表面接触时AFM探针在Z方向的位置；AFM探针逐渐逼近被测物表面，当AFM探针和被测物表面刚好接触时，关闭反馈调节系统并停止进针，微悬臂随即发生偏转；利用数据采集卡采集微悬臂偏转随时间变化关系。本发明避免了压电陶瓷扫描器驱动AFM探针在Z方向的运动对被测物表面动态过程研究的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 原子 显微镜 力示踪 方法 | ||
【主权项】：
原子力显微镜的力示踪方法，其特征在于，该方法具有如下步骤：步骤一、首先，在进行力示踪测量前对AFM探针针尖进行待测分子的修饰，力示踪测量过程中，在反馈调节系统的控制下完成进针，之后关闭反馈调节系统，通过得到的力‑距离曲线确定AFM探针和被测物表面接触时AFM探针在Z方向的位置；步骤二、确定AFM探针和被测物表面接触时AFM探针在Z方向的位置后，AFM探针会回缩至原位，AFM探针针尖修饰有检测物，设定AFM探针和被测物表面接触时的相关参数，开启反馈调节系统，使AFM探针逐渐逼近被测物表面，当AFM探针和被测物表面刚好接触时，关闭反馈调节系统并停止进针，当检测物与被检测物之间有相互作用时微悬臂随即发生偏转；步骤三、利用数据采集卡采集微悬臂偏转随时间变化关系并输入至电脑进行分析处理。
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