[发明专利]通过确定熔体激活能评估熔断器寿命的方法

摘要

本发明公开了通过确定熔体激活能评估熔断器寿命的方法，包括对多组熔断器分别进行不同加速应力的加速老化试验，并根据多组试验数据得出熔体在不同温度下的金属电迁移寿命，再利用曲线拟合的方法计算出熔体的激活能，确定熔断器寿命评估模型的参数，从而可计算出熔体在不同条件的使用寿命，通过试验方法确定出熔体激活能来评估熔断器的寿命，相比于现有技术的采用经验数据，本发明的方法能够提到熔断器寿命评估的准确性。

主权项

通过确定熔体激活能评估熔断器寿命的方法，其特征在于：包括：（1）给多组熔断器分别加不同的试验电流进行不同加速应力的加速老化试验，所述多组熔断器的试验电流均大于额定电流，并小于最小约定熔断电流；（2）获得每组所述熔断器在同一时刻的平均熔体温度，并通过包括平均秩法以及威布尔分布参数估计的可靠性预计算法，计算出所述每组熔断器的平均运行时间，各组所述熔断器的平均熔体温度是不相同的；熔断器寿命评估模型采用lnt=lnA+Ea/（RT），其中t为平均运行时间，T为平均熔体温度，A是待定常数，R为波尔兹曼常数，Ea为熔体激活能，设定y=lnt，x=1/T，a=Ea/R，b=lnA，则得到y=ax+b，利用最小二乘法进行曲线拟合，计算出a和b， a = NΣxy - ΣxΣy NΣ x 2 - ( Σx ) 2 b = Σy - aΣx N 根据a和b得出Ea与A，则根据所述熔断器寿命评估模型能够进行待测熔断器组的平均运行时间或称为寿命的评估。