[发明专利]薄膜检测方法及检测装置有效
| 申请号： | 201210133192.4 | 申请日： | 2012-05-02 |
| 公开（公告）号： | CN102680472A | 公开（公告）日： | 2012-09-19 |
| 发明（设计）人： | 黄献颐;洪群泰 | 申请（专利权）人： | 明基材料有限公司;明基材料股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215121 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明揭露了一种薄膜检测方法及检测装置，用于检测贴附于显示面板的待测薄膜，该薄膜检测方法包含以下步骤：(A)读取待测薄膜的参考位置；(B)于该待测薄膜对应该显示面板的像素排列方向上以固定的间隔距离撷取多张检测影像；(C)计算该多张检测影像中对应该参考位置的校准位置与该参考位置的距离差，并对应产生多个偏移值；及(D)输出该多个偏移值。本发明可图形化待测薄膜贴于显示面板上的表现，更精准地检测待测薄膜，并可应用于自动化检测待测薄膜，减少检测的人力耗费，提高检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 薄膜 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种薄膜检测方法，用于检测贴附于显示面板的待测薄膜，其特征在于，该薄膜检测方法包含以下步骤：(A)读取该待测薄膜的参考位置；(B)于该待测薄膜对应该显示面板的像素排列方向上以固定的间隔距离撷取多张检测影像；(C)计算该多张检测影像中对应该参考位置的校准位置与该参考位置的距离差，并对应产生多个偏移值；及(D)输出该多个偏移值。
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