[发明专利]一种磁控溅射装置有效
申请号: | 201210105215.0 | 申请日: | 2012-04-11 |
公开(公告)号: | CN103374705A | 公开(公告)日: | 2013-10-30 |
发明(设计)人: | 边国栋 | 申请(专利权)人: | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 彭瑞欣;张天舒 |
地址: | 100176 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种磁控溅射装置,包括反应腔室、卡盘以及靶材,所述卡盘设置在所述反应腔室底部,其用于承载被加工工件,所述靶材设置在所述反应腔室顶部,在所述反应腔室侧壁的外侧设有边磁体,而且所述边磁体位于所述卡盘的上方,在所述卡盘的边缘还设有辅助磁体,所述辅助磁体的磁极与所述边磁体的磁极同向设置,所述辅助磁体和所述边磁体形成磁回路,借助所述磁回路使等离子体中的金属离子向所述反应腔室的边缘区域移动,以增加靶材粒子在所述被加工工件边缘区域的沉积量。该磁控溅射装置可以增加被加工工件边缘区域的沉积量,从而可以提高薄膜厚度的均匀性。 | ||
搜索关键词: | 一种 磁控溅射 装置 | ||
【主权项】:
一种磁控溅射装置,包括反应腔室、卡盘以及靶材,所述卡盘设置在所述反应腔室底部,其用于承载被加工工件,所述靶材设置在所述反应腔室顶部,在所述反应腔室侧壁的外侧设有边磁体,而且所述边磁体位于所述卡盘的上方,其特征在于,在所述卡盘的边缘包括辅助磁体,所述辅助磁体的磁极与所述边磁体的磁极同向设置,所述辅助磁体和所述边磁体形成磁回路,借助所述磁回路使等离子体中的金属离子向所述反应腔室的边缘区域移动,以增加靶材粒子在所述被加工工件边缘区域的沉积量。
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