[发明专利]一种基于双面核/壳结构硅纳米线组的热电材料的制备方法无效

专利信息
申请号: 201210051186.4 申请日: 2012-03-01
公开(公告)号: CN102593343A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 王志亮;陈雪皎;朱美光;陈云;严强 申请(专利权)人: 华东师范大学
主分类号: H01L35/34 分类号: H01L35/34
代理公司: 上海蓝迪专利事务所 31215 代理人: 徐筱梅;张翔
地址: 200241 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种基于双面核/壳结构硅纳米线组的热电材料的制备方法,该方法是在硅片上生长硅纳米线得到基于双面核/壳结构硅纳米线组的热电材料,其硅为核、外围包裹自然氧化层为壳,其硅纳米线直径为20~300nm、长度为150~155μm,该热电材料的热导率常温下为0.97Wm-1K-1,ZT为1.02。本发明得到的热电材料应用时无需去除氧化层,在纳米器件领域和新能源领域具有广阔的应用前景;本发明具有制备方法简单,低成本,高重复性,对环境要求低,适用于大规模工业生产。
搜索关键词: 一种 基于 双面 结构 纳米 热电 材料 制备 方法
【主权项】:
一种基于双面核/壳结构硅纳米线组的热电材料的制备方法,其特征在于该方法包括以下具体步骤:(1) 标准RCA清洗步骤清洗硅片,氮气吹干备用;(2) 25 mmol L‑1AgNO3和浓度为40%的氢氟酸混合,形成混合溶液,其25 mmol L‑1AgNO3和浓度为40%的氢氟酸体积比为1:1,超声使混合溶液均匀分布;将经清洗的硅片完全淹没于混合溶液中进行刻蚀,刻蚀过程中硅片表面与混合溶液液面垂直,并保证硅片两面刻蚀速率相同,反应时间为100~120分钟,硅片双面生长有硅纳米线,其长度为150~155 μm,然后,用大量去离子水冲洗,去除化学试剂残留;用硝酸去除沉积银;大量去离子水冲洗,去除化学试剂残留,鼓风干燥箱烘干,制备生成基于双面核/壳结构硅纳米线组热电材料;其中,所述硅片为p‑Si,双面抛光,<100> 晶向,电阻率为 0.1~10 Ω·cm。
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