[发明专利]运用于高速输出入端上的内建自测试电路

摘要

本发明涉及一种运用于高速输出入端上的内建自测试电路，包括：检测单元，具有第一输入端接收串行输出信号，第二输入端接收串行致能信号，与输出端产生检测信号；旗标单元，接收检测信号，产生旗标信号；选择单元，接收串行输出信号、串行致能信号与旗标信号。当重置信号于第一电位时，选择单元将串行输出信号与串行致能信号传递至输出入端；当重置信号于第二电位时，串行输出信号与串行致能信号之间具有一预定关系。

主权项

一种存储器控制器内的内建自测试电路，该存储器控制器包括一核心电路与一输出入端，该核心电路输出一重置信号、一串行输出信号与一串行致能信号，该输出入端包括一输出驱动单元，该内建自测试电路包括：一检测单元，具有一第一输入端接收该串行输出信号，一第二输入端接收该串行致能信号，以及一输出端产生一检测信号；一旗标单元，接收该检测信号以产生一旗标信号；以及一选择单元，接收该串行输出信号、该串行致能信号以及该旗标信号；其中，当该重置信号于一第一电位时，该选择单元将该串行输出信号与该串行致能信号传递至该输出驱动单元的一输入端与一致能端；当该重置信号于一第二电位时，该串行输出信号与该串行致能信号之间具有一预定关系，且该选择单元将该旗标信号传递至该输出驱动单元的该输入端。