[发明专利]接触触发式测头

摘要

一种接触触发式测头，用以判断是否与一待加工物相接触，包含有一套筒、一感测部及一传感部。该套筒沿一轴向延伸，并包含一第一空间及一与该第一空间连通的第二空间；该感测部包含一凸伸至该套筒外的感测端及一远离该感测端的传动端；该传感部受该传动端推抵而于该第二空间相对该套筒自一初始位置移动至一触发位置，并具有一沿该轴向隆起的受动端，该受动端与该传动端接触。据此，本发明具有一侧向接触的摆动感测行程及一纵向接触的升降感测行程，且不需设置多个感测元件，达到兼具定位精准度及降低制造成本的效果。

主权项

一种接触触发式测头，用以判断是否与一待加工物相接触，其特征在于，所述接触触发式测头包含有：一沿一轴向延伸的套筒，所述套筒包含一开口、一与所述开口相通的第一空间及一与所述第一空间连通的第二空间；一活动设于所述第一空间的感测部，所述感测部包含一凸伸至所述开口外的感测端及一远离所述感测端的传动端；以及一受所述传动端推抵而于所述第二空间相对所述套筒自一初始位置移动至一触发位置的传感部，所述传感部具有一沿所述轴向隆起并与所述传动端接触的受动端；其中所述感测部具有一由所述待加工物侧向推抵所述感测端而连动所述传动端产生一倾斜以推动所述受动端使所述传感部位移至所述触发位置的摆动感测行程、及一由所述待加工物沿所述轴向推抵所述感测端而连动所述传动端产生一轴向位移以推动所述受动端使所述传感部位移至所述触发位置的升降感测行程。