[发明专利]用于测试一个或多个待测设备的测试卡以及测试器有效
| 申请号： | 201180066179.5 | 申请日： | 2011-01-27 |
| 公开（公告）号： | CN103348327A | 公开（公告）日： | 2013-10-09 |
| 发明（设计）人： | 杰恩斯·基利恩 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试（新加坡）私人有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26;G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 李晓冬 |
| 地址： | 新加坡*** | 国省代码： | 新加坡;SG |
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| 摘要： | 一种用于测试一个或多个待测设备的测试卡，所述测试卡包括被配置为与一个或多个待测设备通信的多个测试资源。所述测试卡还包括被配置来接收测试序列的匹配电路，该测试序列为由一个或多个处理指令跟随至少两个匹配指令。所述匹配指令定义测试资源的群组，所述测试资源将根据所述处理指令来操作。所述匹配电路被配置为根据所述至少两个匹配指令来确定多个测试资源中的给定测试资源是否属于所述群组，并且如果所述给定测试资源属于所述群组，则向所述给定测试资源转发所述处理指令，并且如果所述给定测试资源不属于所述群组，则不向所述给定测试资源转发所述处理指令。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 一个 多个待测 设备 以及 | ||
【主权项】：
一种用于测试一个或多个待测设备的测试卡，所述测试卡包括：多个测试资源(103‑1至103‑4)，所述多个测试资源被配置为与一个或多个待测设备(101‑1至101‑3)通信；以及匹配电路(105a、105b、105c、205)，所述匹配电路被配置为接收测试序列(107)，该测试序列(107)为由一个或多个处理指令(108)跟随至少两个匹配指令(106)；其中所述至少两个匹配指令(106)定义将根据所述处理指令(108)来操作的测试资源的群组；并且其中所述匹配电路(105a、105b、105c、205)被配置为基于所述至少两个匹配指令(106)来确定所述多个测试资源(103‑1至103‑4)中的给定测试资源(103‑1)是否属于所述将根据所述处理指令来操作的测试资源的群组，并且如果所述给定测试资源(103‑1)属于所述将根据所述处理指令(108)来操作的测试资源的群组，则向所述给定测试资源(103‑1)转发所述处理指令(108)，并且如果所述给定测试资源(103‑1)不属于将根据所述处理指令(108)来操作的所述测试资源的群组，则不向所述给定测试资源(103‑1)转发所述处理指令(108)。
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