[发明专利]用于使用光纤传感器监控振动的方法和装置有效
| 申请号: | 201180064218.8 | 申请日: | 2011-12-06 |
| 公开(公告)号: | CN103299032B | 公开(公告)日: | 2018-12-14 |
| 发明(设计)人: | R·G·杜坎;B·A·切尔德斯;R·M·哈曼;A·巴拉高帕尔 | 申请(专利权)人: | 贝克休斯公司 |
| 主分类号: | E21B47/008 | 分类号: | E21B47/008;E21B47/135 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 金晓 |
| 地址: | 美国得*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | 公开了用于监控井下部件的装置。装置包括:光纤传感器,包括沿光纤传感器的长度分布的多个感测位置的;询问组件,被配置为将电磁询问信号传送至光纤传感器并且从多个感测位置中的每一个接收反射信号;处理单元,被配置为接收反射信号,沿光纤传感器选择测量位置,选择与光线传感器中的第一感测位置相关联的第一反射信号,所述第一感测位置对应于测量位置,选择与光纤传感器中的第二感测位置相关联的第二反射信号,估算第一信号与第二信号之间的相位差,以及基于相位差估算测量位置处的井下部件的参数。 | ||
| 搜索关键词: | 用于 使用 光纤 传感器 监控 振动 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种用于监控井下部件的装置,所述装置包括:光纤传感器,其长度与所述井下部件具有可操作的关系,并且被配置为响应于所述井下部件的变形而变形,所述光纤传感器包括沿所述光纤传感器的长度至少基本上连续地分布的多个本征散射位置;询问组件,被配置为将扫频波长电磁询问信号传送至光纤传感器中并且从所述多个本征散射位置中的每一个接收反射信号;处理单元,被配置为接收所述反射信号,沿所述光纤传感器选择测量位置,选择与所述光纤传感器中的第一本征散射位置相关联的第一反射信号,所述第一本征散射位置对应于所述测量位置,选择与所述光纤传感器中的第二本征散射位置相关联的第二反射信号,对所述第一反射信号和第二反射信号执行傅里叶变换,基于经过变换的信号估算所述第一信号与所述第二信号之间的相位差,以及基于所述相位差估算所述测量位置处的所述井下部件的参数,其中所述第一本征散射位置和所述第二本征散射位置不依赖于预先安装的反射器的位置,其中所述处理单元进一步被配置为在时间周期内将多个询问信号传送至所述光纤传感器中,估算与所述多个询问信号中的每一个相关联的所述第一信号与所述第二信号之间的多个相位差,生成时变相位差图形,以及通过将相位差图形分成与光纤传感器各部分相关联的相位差数据的仓以生成相位差测量,通过自举方法把所述相位差图形分成所述仓,其中从更接近于所述询问组件的仓移除相位差数据得到每个仓中的相位差数据。
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