[发明专利]折射率测定装置和折射率测定方法有效

专利信息
申请号: 201180044568.8 申请日: 2011-09-09
公开(公告)号: CN103119420A 公开(公告)日: 2013-05-22
发明(设计)人: 安永博敏;山渕浩二;石田壮史 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: G01N21/43 分类号: G01N21/43
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 在测定固体试样(S)的折射率的折射率测定装置(1)中,使固体试样(S)隔着具有规定折射率的折射率液(4)与具有规定折射率的棱镜(3)密接。并且,设置具有受光面(6a)的带有标尺的转角(受光部件)(6),接受来自光源(2)的光中的在棱镜(3)被反射的第一反射光(R1),棱镜(3)由旋转台(旋转驱动部)(5)旋转驱动,在由检测器(7)检测出的第二反射光(R2)的强度变得小于规定值的情况下,使用带有标尺的转角(6)的受光面(6a)中的第一反射光(R1)的位置,测定固体试样(S)的折射率。
搜索关键词: 折射率 测定 装置 方法
【主权项】:
一种折射率测定装置,其特征在于:其是测定固体试样的折射率的折射率测定装置,所述折射率测定装置包括:光源;棱镜,其具有规定的折射率,并且具备入射来自所述光源的光的第一面和对所述固体试样射出通过所述第一面的光的第二面;旋转驱动所述棱镜的旋转驱动部;具有规定的折射率并且使所述固体试样与所述棱镜的所述第二面密接的折射率液;受光部件,其具有接受来自所述光源的光中的在所述棱镜的所述第一面被反射的第一反射光的受光面;和检测器,其接受来自所述棱镜的所述第二面的光中的在所述固体试样的所述折射率液一侧的表面被反射的第二反射光,检测接受到的第二反射光的强度,通过所述旋转驱动部旋转驱动所述棱镜,在由所述检测器检测出的第二反射光的强度变得小于规定值的情况下,使用所述受光部件的所述受光面中的第一反射光的位置,测定所述固体试样的折射率。
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