[发明专利]用于电子装置的改良测试之系统和方法无效

专利信息
申请号: 201180022004.4 申请日: 2011-05-02
公开(公告)号: CN102906578A 公开(公告)日: 2013-01-30
发明(设计)人: 维侬·库克 申请(专利权)人: 伊雷克托科学工业股份有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 许静;安利霞
地址: 美国俄*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 测试和分类电子装置(34、36)的改良方法,其使用应用于一单一轨道(14)的二或更多个测试站(38、40)和二或更多个分类站(42、44)以改良系统产量。应用二或更多个测试站(38、40)和二或更多个分类站(42、44)至一单一轨道(14)则达成了改良的系统产量,同时增加的系统成本低于每一测试站(38、40)安装重复轨道所预期的成本。
搜索关键词: 用于 电子 装置 改良 测试 系统 方法
【主权项】:
一种使用自动测试系统来测试和分类电子装置的改良方法,该自动测试系统具有用于传输该电子装置的轨道,其改良包括:对该自动测试系统提供全都相邻于该轨道之一第一测试站、一第二测试站、一第一分类站、一第二分类站;该轨道传输这些电子装置的一第一部分到相邻于该第一测试站的位置,以及该轨道传输这些电子装置的一第二部分到相邻于该第二测试站的位置,而这些电子装置的该第一部分和该第二部分的传输实质上同时发生,该第一测试站对这些电子装置的该第一部分进行第一测试以获得第一测试结果,以及该第二测试站对这些电子装置的该第二部分进行第二测试以获得第二测试结果,而这些第一和第二测试实质上同时发生;传输相邻于该第一分类站之这些电子装置的该第一测试部分,以及传输相邻于该第二分类站之这些电子装置的该第二测试部分;该第一分类站根据该第一测试结果来把这些电子装置的该第一测试部分分类,以及根据该第二测试结果来把这些电子装置的该第二测试部分分类,而该分类实质上同时发生,藉此以该轨道上的这些第一和第二测试站来测试和分类这些电子装置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于伊雷克托科学工业股份有限公司,未经伊雷克托科学工业股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201180022004.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top