[发明专利]软X射线检测用多晶闪烁器有效
| 申请号： | 201180021845.3 | 申请日： | 2011-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN102869748A | 公开（公告）日： | 2013-01-09 |
| 发明（设计）人： | 中村良平;田中谦弥;上田俊介 | 申请（专利权）人： | 日立金属株式会社 |
| 主分类号： | C09K11/80 | 分类号： | C09K11/80;C09K11/00;G01T1/20;G01T1/202 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 张宝荣 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种软X射线检测用多晶闪烁器，其含有作为发光元素的Ce和至少Y、Gd、Al、Ga及O，且具有石榴石结晶构造，具有以下述一般式：(Y1-x-zGdxCez)3+a(Al1-uGau)5-aO12(其中，0≤a≤0.1，0.15≤x≤0.3，0.002≤z≤0.015，及0.35≤u≤0.55)表示的组成，Fe含量以独占比例算为0.05～1质量ppm，Si的含量以独占比例算为0.5～10质量ppm，50keV的X射线的吸收系数μ50与100keV的X射线的吸收系数μ100之比μ50/μ100为3以上，X射线停止后3ms后的余辉为800ppm以下。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 检测 多晶 闪烁 | ||
【主权项】：
一种软X射线检测用多晶闪烁器，其含有作为发光元素的Ce和至少Y、Gd、Al、Ga及O，且具有石榴石结晶构造，其特征在于，具有以下述一般式：(Y1‑x‑zGdxCez)3+a(Al1‑uGau)5‑aO12表示的组成，其中，0≤a≤0.1，0.15≤x≤0.3，0.002≤z≤0.015，及0.35≤u≤0.55，Fe的含量以独占比例算为0.05～1质量ppm，Si的含量以独占比例算为0.5～10质量ppm，50keV的X射线的吸收系数μ50与100keV的X射线的吸收系数μ100之比μ50/μ100为3以上，X射线停止后3ms后的余辉为800ppm以下。
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