[发明专利]静态电流(IDDQ)指示及测试装置和方法有效

专利信息
申请号: 201180007327.6 申请日: 2011-01-19
公开(公告)号: CN102770774A 公开(公告)日: 2012-11-07
发明(设计)人: N·A·杰瑞格;I·S·坎达尔 申请(专利权)人: 飞思卡尔半导体公司
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02;G01R31/28
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 秦晨
地址: 美国得*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种电子器件的实施例包括逻辑电路(130)、开关元件(132)和静态电流(IDDQ)评估电路(134)。逻辑电路(130)与第一接地节点(154)耦接。开关元件(132)被耦接于第一接地节点(154)和第二接地节点(156)之间。开关元件(132)在该电子器件处于IDDQ评估状态时可配置为非导电状态(216),而在该电子器件不处于IDDQ评估状态时可配置为导电状态(213)。当电子器件处于IDDQ评估状态时,IDDQ评估电路(134)被配置为在第一和第二接地节点(154、156)之间的IDDQ指示电压超过参考电压(220)时提供(224)第一输出信号。其它的实施例包括用于在电子器件内产生IDDQ的指示的方法(图2)以及用于制作具有产生IDDQ指示的能力的电子器件的方法(图4)。
搜索关键词: 静态 电流 iddq 指示 测试 装置 方法
【主权项】:
一种电子器件,包括:第一接地节点;第二接地节点;具有逻辑接地输出的逻辑电路,其中所述逻辑接地输出与所述第一接地节点电耦接;电耦接于所述第一接地节点和所述第二接地节点之间的开关元件,其中当所述电子器件处于静态电流(IDDQ)评估状态时,所述开关元件可配置为非导电状态,并且当所述电子器件不处于所述IDDQ评估状态时,所述开关元件可配置为导电状态;以及电耦接于所述第一接地节点和所述第二接地节点之间的IDDQ评估电路,其中,当所述电子器件处于所述IDDQ评估状态时,所述IDDQ评估电路被配置为当所述第一和第二接地节点之间的IDDQ指示电压超过参考电压时提供第一输出信号。
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