[实用新型]多路热敏电阻老化及热时间常数测试装置有效
申请号: | 201120524891.2 | 申请日: | 2011-12-14 |
公开(公告)号: | CN202383215U | 公开(公告)日: | 2012-08-15 |
发明(设计)人: | 黎步银;刘明;胡宾鑫;戴世龙;黄龙 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 李智 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本实用新型公开了多路热敏电阻老化及热时间常数测试装置,包括高温水槽机构、低温水槽机构、样品位置切换机构、自动给水单元和测量及控制单元,两水槽机构之间设有样品位置切换机构,两水槽机构分别连接一自动给水单元,测量及控制单元电连接样品。本实用新型可保证恒温的测试环境,实现自动水位补给和样品位置切换,最终对数据作数字化处理,实现热敏电阻老化及热时间常数的全自动化测试,解决了现有测试设备存在的温场不均匀、温度不可调、测量数据不准确、效率低的问题,适用于对大批量生产的热敏电阻进行实时监控测试或者抽样测试。 | ||
搜索关键词: | 热敏电阻 老化 时间常数 测试 装置 | ||
【主权项】:
多路热敏电阻老化及热时间常数测试装置,包括高温水槽机构、低温水槽机构、样品位置切换机构、自动给水单元和测量及控制单元,两水槽机构之间设有样品位置切换机构,两水槽机构分别连接一自动给水单元,测量及控制单元电连接样品。
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