[实用新型]1米立式接触式干涉仪有效

专利信息
申请号: 201120496992.3 申请日: 2011-12-02
公开(公告)号: CN202522192U 公开(公告)日: 2012-11-07
发明(设计)人: 朱敬华;任和汉 申请(专利权)人: 西安航天计量测试研究所
主分类号: G01B9/02 分类号: G01B9/02
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 张倩
地址: 710100 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 实用新型涉及1米立式接触式干涉仪,包括基座、光学系统、探头组件、工作台以及调节组件,探头组件包括探头支架以及固定在探头支架上的探头,所述光学系统与探头支架固定连接,探头正对工作台安装,调节组件包括双立柱、丝杠、设置在双立柱上的滑块、设置在丝杠一端的旋转手柄以及设置在滑块上的锁紧螺钉,旋转手柄驱动丝杠带动滑块沿双立柱运动,探头支架与滑块固定连接。本实用新型解决了对于现有的大量块采用一般测量仪器无法测量,而测长机又非常昂贵的技术问题,解决了量块修理中的测量方法的缺失和大尺寸、高精度特殊形状的零件无法测量的尴尬。
搜索关键词: 立式 接触 干涉仪
【主权项】:
1米立式接触式干涉仪,其特征在于:包括基座、光学系统、探头组件、工作台以及调节组件,所述探头组件包括探头支架以及固定在探头支架上的探头,所述光学系统与探头支架固定连接,所述探头正对工作台安装,所述调节组件包括双立柱、丝杠、设置在双立柱上的滑块、设置在丝杠一端的旋转手柄以及设置在滑块上的锁紧螺钉,所述旋转手柄驱动丝杠带动滑块沿双立柱运动,所述探头支架与滑块固定连接。
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