[实用新型]航天测控用光学晶片有效
| 申请号： | 201120382455.6 | 申请日： | 2011-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN202240950U | 公开（公告）日： | 2012-05-30 |
| 发明（设计）人： | 赵玉宏;朱中晓 | 申请（专利权）人： | 北京石晶光电科技股份有限公司济源分公司 |
| 主分类号： | B24D3/00 | 分类号： | B24D3/00 |
| 代理公司： | 郑州红元帅专利代理事务所(普通合伙) 41117 | 代理人： | 黄军委 |
| 地址： | 454650 河南省焦作*** | 国省代码： | 河南;41 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本实用新型提供一种航天测控用光学晶片，该航天测控用光学晶片是直径为62mm的圆形石英晶体抛光片，所述圆形石英晶体抛光片的上下表面是彼此平行的纳米级抛光平面。该航天测控用光学晶片采用直径为62mm的圆形晶片和纳米级抛光表面，使得产品满足了航天测控技术的需要，其具有结构简单、设计科学、生产工艺简单、可靠性高、利于实现产业化的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 航天 测控 用光 晶片 | ||
【主权项】：
一种航天测控用光学晶片，其特征在于：该航天测控用光学晶片是直径为62mm的圆形石英晶体抛光片，所述圆形石英晶体抛光片的上下表面是彼此平行的纳米级抛光平面。
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