[实用新型]一种传感器测试仪有效
申请号: | 201120231161.3 | 申请日: | 2011-07-01 |
公开(公告)号: | CN202171469U | 公开(公告)日: | 2012-03-21 |
发明(设计)人: | 詹泽海 | 申请(专利权)人: | 深圳职业技术学院 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00;G01R31/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518055 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种传感器测试仪,其包括多功能测试区、光电传感器测试区、测试电路板、输入接线端子,所述的多功能测试区,用于对磁性开关、电感式或电容式数字量传感器进行触点检查、精细调整及检测开关的输出;所述的光电传感器测试区,用于对光电/光纤数字量传感器的触点检查、精细调整及检测开关的输出;所述的测试电路板与所述的多功能测试区、光电传感器及输入接线端子相连。与现有相比,本新型传感器测试仪可用于磁性开关、电容式数字量传感器、电感式数字量传感器以及光电/光纤数字量传感器的快速检查触点、快速精细调整及检测开关输出。可大大减少自动化设备维修人员及传感器生产厂家的出厂测试工作量。 | ||
搜索关键词: | 一种 传感器 测试仪 | ||
【主权项】:
一种传感器测试仪,其特征在于:其包括多功能测试区、光电传感器测试区、测试电路板、输入接线端子,所述的多功能测试区,用于对磁性开关、电感式或电容式数字量传感器进行触点检查、精细调整及检测开关的输出;所述的光电传感器测试区,用于对光电/光纤数字量传感器的触点检查、精细调整及检测开关的输出;所述的测试电路板与所述的多功能测试区、光电传感器及输入接线端子相连。
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