[实用新型]一种粗糙度仪的姿态调整装置无效
| 申请号： | 201120001882.5 | 申请日： | 2011-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN201926436U | 公开（公告）日： | 2011-08-10 |
| 发明（设计）人： | 郭键;朱杰;王玉泉;周丽 | 申请（专利权）人： | 北京物资学院 |
| 主分类号： | G01B21/30 | 分类号： | G01B21/30 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 任默闻 |
| 地址： | 101149*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种粗糙度仪的姿态调整装置，所述粗糙度仪通过粗糙度仪底座上的底座支点、底座支点和底座支点与工作台表面接触，其中底座支点和底座支点是固定的，位于粗糙度仪底座的前端；底座支点位于粗糙度仪底座的后端，并被固定在旋转轮上，旋转轮转动带动丝杠的一端上下运动，从而改变粗糙度仪后端距离工作台表面的高度，使得粗糙度仪底座与工作台平行，其特征在于，所述粗糙度仪的姿态调整装置还包括一位于丝杠另一端的指针和一刻度盘，所述粗糙度仪在通过校准使得指针指向刻度盘的平衡点时，使得粗糙度仪底座与工作台平行。本实用新型将指针调整到指向刻度盘的平衡点时，即可使得粗糙度仪底座与工作台平行，减少了测量平晶表面的步骤。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 粗糙 姿态 调整 装置 | ||
【主权项】：
一种粗糙度仪的姿态调整装置，所述粗糙度仪通过粗糙度仪底座(3)上的底座支点(31)、底座支点(32)和底座支点(33)与工作台(1)表面接触，其中底座支点(31)和底座支点(32)是固定的，位于粗糙度仪底座(3)的前端；底座支点(33)位于粗糙度仪底座(3)的后端，并被固定在旋转轮(2)上，旋转轮(2)转动带动丝杠(4)的一端上下运动，从而改变粗糙度仪后端距离工作台(1)表面的高度，使得粗糙度仪底座(3)与工作台(1)平行，其特征在于，所述粗糙度仪的姿态调整装置还包括一位于丝杠(4)另一端的指针(5)和一刻度盘(6)，所述粗糙度仪在通过校准使得指针(5)指向刻度盘(6)的平衡点时，使得粗糙度仪底座(3)与工作台(1)平行。
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