[发明专利]一种片内混合测试装置和方法有效
| 申请号： | 201110444605.6 | 申请日： | 2011-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN103185859A | 公开（公告）日： | 2013-07-03 |
| 发明（设计）人： | 陶育源 | 申请（专利权）人： | 国民技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/316 | 分类号： | G01R31/316;G01R31/317 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人： | 薛祥辉 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出了一种片内混合测试装置和方法，通过内置一个可编程的引擎到芯片的电路系统中，并将对被测电路的测试流程，统一规范为对不同寄存器的读写及相关的计算判断等操作，每一步操作对应测试控制引擎的一条指令，通过编写不同的指令序列，完成不同的测试流程控制。本发明还可以根据不同需求编写程序来控制测试引擎，以实现更加全面的、更加高效的完成对电路参数的测试和验证。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 混合 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种片内混合测试装置，其特征在于，包括：设置在芯片内的待测电路单元、控制寄存器单元、状态寄存器单元、以及测试控制单元；所述控制寄存器单元连接在所述待测电路单元的控制信号输入口和所述测试控制单元测试信号发送端之间；所述状态寄存器单元连接在所述待测电路单元的状态信号输出口和所述测试控制单元测试信号接收端之间；所述测试控制单元用于执行测试控制引擎数据的处理过程，并通过更改所述控制寄存器单元中的值对所述待测电路单元发出测试控制指令，以及读取所述状态控制寄存器单元中的值获取所述待测电路单元的状态信息。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国民技术股份有限公司，未经国民技术股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110444605.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：高层住宅小区消防联动控制系统的调试方法
- 下一篇：用于检测汽车安装支架的检具
