[发明专利]电压检测电路有效

专利信息
申请号: 201110435807.4 申请日: 2011-12-22
公开(公告)号: CN103176020B 公开(公告)日: 2015-04-08
发明(设计)人: 李一天;周平 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: G01R15/04 分类号: G01R15/04;G01R19/00
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 丁纪铁
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种电压检测电路,包括分压电路和比较器。分压电路包括第一电容和第二电容。第一电容的第一端连接参考电压、第二端通过第一开关连接到电源电压。第二电容的第一端通过第二开关连接到参考电压,第二电容的第一端通过第三开关连接地电位;第二电容的第二端为分压电路的输出端并和比较器的第一输入端相连,第二电容的第二端通过第四开关连接到参考电压。第一电容的第二端和第二电容的第二端通过第五开关相连。本发明能降低电路在芯片上的占用面积,能完全消除电路的静态功耗从而降低电路的功耗,能保证电路具有较高的电压分压精度。
搜索关键词: 电压 检测 电路
【主权项】:
一种电压检测电路,其特征在于,包括:分压电路和比较器;所述分压电路的输出端输出电源电压的分压并和所述比较器的第一输入端相连,所述比较器的第二输入端连接参考电压;所述分压电路包括第一电容和第二电容;所述第一电容的第一端连接所述参考电压、第二端通过第一开关连接到所述电源电压;所述第二电容的第一端通过第二开关连接到所述参考电压,所述第二电容的第一端通过第三开关连接地电位;所述第二电容的第二端为所述分压电路的输出端并和所述比较器的第一输入端相连,所述第二电容的第二端还通过第四开关连接到所述参考电压;所述第一电容的第二端和所述第二电容的第二端通过第五开关相连;所述分压电路存在两种连接结构;第一种连接结构中:所述第一开关、所述第三开关和所述第四开关都闭合,所述第二开关和所述第五开关断开;所述第一电容连接于所述电源电压和所述参考电压之间,所述第一电容中存储有电荷,且该电荷的电量大小为第一电量值;所述第二电容连接于所述参考电压和地之间,所述第二电容中存储有电荷,且该电荷的电量大小为第二电量值;第二种连接结构中:所述第一开关、所述第三开关和所述第四开关都断开,所述第二开关和所述第五开关闭合;所述第一电容和所述第二电容并联于所述参考电压和所述分压电路的输出端之间,并在所述分压电路的输出端形成所述电源电压的分压;在所述第一种连接结构中,所述第一电量值的大小为:Q1=(VDD‑Vref)×C1,Q1表示所述第一电量值,VDD表示所述电源电压,Vref表示所述参考电压,C1表示所述第一开关的电容;所述第二电量值的大小为:Q2=Vref×C2,Q2表示所述第二电量值,C2表示所述第二开关的电容;在所述第二种连接结构中,由存储有第一电量值的电荷的所述第一电容和存储有所述第二电量值的电荷的所述第二电容并联形成的所述电源电压的分压的大小为:Vx表示所述电源电压的分压;在所述第二种连接结构中,令所述电源电压的分压等于所述参考电压,所述参考电压的大小为:<mrow><mi>Vref</mi><mo>=</mo><mfrac><msub><mi>C</mi><mn>1</mn></msub><mrow><msub><mi>C</mi><mn>1</mn></msub><mo>-</mo><msub><mi>C</mi><mn>2</mn></msub></mrow></mfrac><mi>VDD</mi><mo>;</mo></mrow>所述第一电容和所述第二电容的电容值的大小能调节且是根据所要检测的所述电源电压的电压值大小进行调节,所述第一电容和所述第二电容的电容值根据所述电源电压的分压等于所述参考电压的条件进行设定。
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