[发明专利]快速检测大容量NORFlash的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201110422997.6 申请日: 2011-12-16
公开(公告)号: CN103165194B 公开(公告)日: 2017-05-24
发明(设计)人: 丁岳;汪旭光;刘建志 申请(专利权)人: 天津中兴智联科技有限公司
主分类号: G11C29/52 分类号: G11C29/52
代理公司: 天津滨海科纬知识产权代理有限公司12211 代理人: 李成运
地址: 300308 天津市滨海*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开一种快速检测大容量NOR Flash的方法及装置,该方法包括以下步骤擦除NOR Flash的一个扇区,写入测试数据,并判断数据线是否正常;若数据线正常,则判断地址线是否正常,并在地址线不正常时返回测试失败结果;若数据线不正常,则返回测试失败结果。本发明通过只向NOR Flash空间一次性写入一组构造的测试数据,在回读校验时无须遍历整个地址空间,只需通过地址线移位的方法回读所需检测的地址空间上的数据来判断数据线和地址线是否存在开路或短路的情况,节省了大量的检测时间,达到了快速检测大容量NOR Flash的有益效果。
搜索关键词: 快速 检测 容量 nor flash 方法 装置
【主权项】:
一种快速检测大容量NOR Flash的方法,其特征在于,包括以下步骤:擦除NOR Flash的一个扇区,写入测试数据,并判断数据线是否正常;若数据线正常,则判断地址线是否正常,并在地址线不正常时返回测试失败结果;若数据线不正常,则返回测试失败结果;所述判断地址线是否正常的步骤具体包括:判断地址线是否短路:向测试的基地址0偏移处写入测试数据,将地址线依次左移并回读,若读出数据存在与所述写入的测试数据相同的数据,则判断所述地址线短路,即地址线不正常;判断地址线是否开路:若地址线开路,则其状态一直为0或1;当所述地址线为0时,向基地址空间中写入测试数据,将地址线依次左移并回读,若回读的数据中包含所述基地址空间中的数据,则判断所述地址线开路;当所述地址线为1时,向所述基地址空间写入测试数据,将地址线依次左移并回读,若回读的数据中包含所述基地址空间中的数据,则判断所述地址线开路,即地址线不正常。
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