[发明专利]按键使用寿命测试电路无效
申请号: | 201110421164.8 | 申请日: | 2011-12-15 |
公开(公告)号: | CN103163454A | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
发明(设计)人: | 周明杰;赵永川 | 申请(专利权)人: | 海洋王照明科技股份有限公司;深圳市海洋王照明工程有限公司 |
主分类号: | G01R31/327 | 分类号: | G01R31/327 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 何平 |
地址: | 518100 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种按键使用寿命测试电路,用于通过对按键的闭合次数的统计来完成按键使用寿命的测试,包括电机,所述电机周期性地驱动两侧设有光源的按压机构按压按键;按压机构在周期性地按压按键时也在周期性地遮挡光源;所述按键使用寿命测试电路还包括光控制模块及与所述光控制模块电连接并受光控制模块控制计数的计数器,所述光控制模块包括光感应器件,在光源周期性地被按压机构遮挡时,所述光感应器件周期性地接受光源的照射,所述光控制模块在光感应器件受到照射时控制计数器计数。上述电路测试按键使用寿命的方法简单、效率高,不需要投入过多的人力。 | ||
搜索关键词: | 按键 使用寿命 测试 电路 | ||
【主权项】:
一种按键使用寿命测试电路,用于通过对按键的闭合次数的统计来完成按键使用寿命的测试,包括电机,所述电机周期性地驱动两侧设有光源的按压机构按压按键;所述按压机构在周期性地按压按键时也在周期性地遮挡光源;其特征在于,所述按键使用寿命测试电路还包括光控制模块及与所述光控制模块电连接并受光控制模块控制计数的计数器,所述光控制模块包括光感应器件,在光源周期性地被按压机构遮挡时,所述光感应器件周期性地接受光源的照射,所述光控制模块在光感应器件受到照射时控制计数器计数。
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