[发明专利]核磁共振流体分析微检测探头有效

专利信息
申请号: 201110409749.8 申请日: 2011-12-09
公开(公告)号: CN102518434A 公开(公告)日: 2012-06-27
发明(设计)人: 肖立志;吴保松;李晓南;郭葆鑫;安天琳 申请(专利权)人: 中国石油大学(北京)
主分类号: E21B49/08 分类号: E21B49/08;G01V3/32
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 黄健
地址: 102249*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种核磁共振流体分析微检测探头,包括:环形永磁体,以及套设在所述环形永磁体外壁上的高导磁外壳;所述环形永磁体的中部设置有带状微线圈结构,且所述带状微线圈结构上套设有梯度线圈;所述带状微线圈结构包括上屏蔽铜层、上基板、带状线铜层、下基板和下屏蔽铜层;所述上基板和下基板上分别设置有流体通道;所述带状线铜层夹设在所述上基板和下基板之间,用于在施加电流作用下在所述流体通道内形成射频磁场;所述上屏蔽铜层设置在所述上基板上,与所述带状线铜层背对的表面;所述下屏蔽铜层设置在所述下基板上,与所述带状线铜层背对的表面。本发明提供的带状线圈微检测探头体积小,产生的磁场强度均匀。
搜索关键词: 核磁共振 流体 分析 检测 探头
【主权项】:
一种核磁共振流体分析微检测探头,其特征在于,包括:环形永磁体,以及套设在所述环形永磁体外壁上的高导磁外壳;所述环形永磁体的中部设置有带状微线圈结构,且所述带状微线圈结构上套设有梯度线圈;所述带状微线圈结构包括上屏蔽铜层、上基板、带状线铜层、下基板和下屏蔽铜层;所述上基板和下基板上分别设置有流体通道;所述带状线铜层夹设在所述上基板和下基板之间,用于在施加电流作用下在所述流体通道内形成射频磁场;所述上屏蔽铜层设置在所述上基板上,与所述带状线铜层背对的表面;所述下屏蔽铜层设置在所述下基板上,与所述带状线铜层背对的表面。
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