[发明专利]一种单粒子误差注入仿真测试系统无效
| 申请号： | 201110404837.9 | 申请日： | 2011-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN102495783A | 公开（公告）日： | 2012-06-13 |
| 发明（设计）人： | 王巍;王宁;徐飞;殷骏;刘慧芳;郑国平 | 申请（专利权）人： | 天津工业大学 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 300160*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种单粒子误差注入仿真测试系统，包括计算机控制模块、测试主板和待测FPGA模块。本发明通过数值模拟辐射粒子照射情况，在计算机控制模块设置误差参数和注入量，将误差传入测试主板，再进行误差的注入和翻转位的比较、统计，最后将测试结果反馈到主控计算机进行误差结果分析。本发明能够验证经过抗单粒子辐射加固后的FPGA器件的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 粒子 误差 注入 仿真 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种单粒子误差注入仿真测试系统，其特征在于，该误差注入仿真测试系统包括计算机控制模块、串口控制模块、系统数据控制模块、RAM存储模块、功能测试输出比较模块、待测FPGA模块。计算机控制模块通过一个串口控制模块和测试主板进行连接；系统数据控制模块与功能测试输出比较模块之间连接，进行数据的控制与比较输出；RAM存储模块连接于系统数据控制模块，进行输出数据的存储。待测FPGA模块通过标准接口连接在测试主板上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津工业大学，未经天津工业大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110404837.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
