[发明专利]基于量子点红外荧光显示技术的焊缝检测方法无效
申请号: | 201110403646.0 | 申请日: | 2011-12-07 |
公开(公告)号: | CN102495078A | 公开(公告)日: | 2012-06-13 |
发明(设计)人: | 魏臻;王茂榕;邢志广;赵思宁;赵彩敏;苌浩;姜啸宇;钟声 | 申请(专利权)人: | 天津理工大学 |
主分类号: | G01N21/91 | 分类号: | G01N21/91;G01N21/64 |
代理公司: | 天津佳盟知识产权代理有限公司 12002 | 代理人: | 侯力 |
地址: | 300384 天津市南*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 一种基于量子点红外荧光显示技术的焊缝检测方法。检测过程包括:焊区表面的初步清理;量子点红外荧光材料的加入;红外激光扫描;探测器获取缺陷图像;缺陷记录与分析。应用一种半导体量子点红外荧光材料做焊接区缺陷标记,用相应波长红外激光器的扩束激光进行焊缝的扫描,实现缺陷处荧光材料的红外激发,然后以探测器进行实施图像记录。并可以对图像作后期的处理得到焊缝更详细的信息,分析与预测焊接区的缺陷分布状况。本方法利用量子点线度在纳米级的优势可以实现微小焊缝的检测,检测精度高,过程简单,并且是在不破坏焊缝的前提下检测焊缝的缺陷,属于无损检测范畴。能够满足高精度的检测标准,并可以对焊接潜在的故障进行预见。 | ||
搜索关键词: | 基于 量子 红外 荧光 显示 技术 焊缝 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种基于量子点红外荧光显示技术的焊缝检测方法,其特征在于该方法所涉及的检测过程包括:(1)焊区表面的初步清理,去除焊区表面杂质对检测结果的干扰;(2)量子点红外荧光材料的加入,在焊缝区表面均匀地涂一层渗透剂胶体,胶体内部含有量子点材料,随着胶体的渗透作用量子点也会随之进入到缺陷的内部;(3)扩束红外激光光束扫描,实现激光能量对红外荧光材料的激发辐射;(4)红外探测器检测,实现图像的采集,获取包含缺陷部位的焊接区红外辐射热像图像;(5)缺陷记录与分析,由图像的预处理过程,对缺陷的大小、形状及面积进行统计与分析,实现位置缺陷的预测功能。
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