[发明专利]基于量子点红外荧光显示技术的焊缝检测方法无效

专利信息
申请号: 201110403646.0 申请日: 2011-12-07
公开(公告)号: CN102495078A 公开(公告)日: 2012-06-13
发明(设计)人: 魏臻;王茂榕;邢志广;赵思宁;赵彩敏;苌浩;姜啸宇;钟声 申请(专利权)人: 天津理工大学
主分类号: G01N21/91 分类号: G01N21/91;G01N21/64
代理公司: 天津佳盟知识产权代理有限公司 12002 代理人: 侯力
地址: 300384 天津市南*** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种基于量子点红外荧光显示技术的焊缝检测方法。检测过程包括:焊区表面的初步清理;量子点红外荧光材料的加入;红外激光扫描;探测器获取缺陷图像;缺陷记录与分析。应用一种半导体量子点红外荧光材料做焊接区缺陷标记,用相应波长红外激光器的扩束激光进行焊缝的扫描,实现缺陷处荧光材料的红外激发,然后以探测器进行实施图像记录。并可以对图像作后期的处理得到焊缝更详细的信息,分析与预测焊接区的缺陷分布状况。本方法利用量子点线度在纳米级的优势可以实现微小焊缝的检测,检测精度高,过程简单,并且是在不破坏焊缝的前提下检测焊缝的缺陷,属于无损检测范畴。能够满足高精度的检测标准,并可以对焊接潜在的故障进行预见。
搜索关键词: 基于 量子 红外 荧光 显示 技术 焊缝 检测 方法
【主权项】:
一种基于量子点红外荧光显示技术的焊缝检测方法,其特征在于该方法所涉及的检测过程包括:(1)焊区表面的初步清理,去除焊区表面杂质对检测结果的干扰;(2)量子点红外荧光材料的加入,在焊缝区表面均匀地涂一层渗透剂胶体,胶体内部含有量子点材料,随着胶体的渗透作用量子点也会随之进入到缺陷的内部;(3)扩束红外激光光束扫描,实现激光能量对红外荧光材料的激发辐射;(4)红外探测器检测,实现图像的采集,获取包含缺陷部位的焊接区红外辐射热像图像;(5)缺陷记录与分析,由图像的预处理过程,对缺陷的大小、形状及面积进行统计与分析,实现位置缺陷的预测功能。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津理工大学,未经天津理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110403646.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top