[发明专利]一种用于痕量生化物质检测的CMUT及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201110399567.7 申请日: 2011-12-05
公开(公告)号: CN102520147A 公开(公告)日: 2012-06-27
发明(设计)人: 赵立波;李支康;蒋庄德;郭鑫;张桂铭;黄恩泽;赵玉龙;苑国英 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01N33/50 分类号: G01N33/50;B81C1/00
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 徐文权
地址: 710049 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提供了一种用于痕量生化物质检测的CMUT及其制备方法,CMUT结构自上而下依次包括敏感识别材料层、作为上电极的重掺杂单晶硅层、二氧化硅绝缘层,以及二氧化硅支柱,所述二氧化硅支柱的中间部分形成有空腔,该空腔的下端被作为下电极的重掺杂单晶硅底座密封,所述空腔的周围与二氧化硅支柱相邻,上下两端分别与二氧化硅绝缘层和重掺杂单晶硅底座相邻,所述二氧化硅绝缘层与重掺杂单晶硅层共同形成整个CMUT结构的振动薄膜。本发明CMUT结构可以获得更高共振频率和品质因子,提高检测灵敏度、实现更小痕量物质检测。
搜索关键词: 一种 用于 痕量 生化 物质 检测 cmut 及其 制备 方法
【主权项】:
一种用于痕量生化物质检测的CMUT,其特征在于:自上而下依次包括敏感识别材料层(1)、作为上电极的重掺杂单晶硅层(2)、二氧化硅绝缘层(3),以及二氧化硅支柱(4),所述二氧化硅支柱(4)的中间部分形成有空腔(6),该空腔(6)的下端被作为下电极的重掺杂单晶硅底座(5)密封,所述空腔(6)的周围为二氧化硅支柱,上下两端分别与二氧化硅绝缘层(3)和重掺杂单晶硅底座相邻,所述二氧化硅绝缘层(3)与重掺杂单晶硅层(2)共同形成整个CMUT结构的振动薄膜。
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