[发明专利]混沌介质光学参数多波长空间分辨锁相测量方法与装置有效

专利信息
申请号: 201110398077.5 申请日: 2011-12-05
公开(公告)号: CN102495027A 公开(公告)日: 2012-06-13
发明(设计)人: 高峰;陈琛;朱苹苹;李娇;赵会娟 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01N21/47 分类号: G01N21/47;A61B5/00
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 程毓英
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明属于组织光学研究中的光学参数测量领域,涉及一种混沌介质光学参数多波长空间分辨锁相测量装置,包括光源部分,探测部分,数据采集部分和计算机。光源部分包括多个不同近红外波长的激光器、多通道直接数字合成正弦信号调制器、单模光纤;探测部分包括源光纤束及其固定架、探测光纤及其固定架、电动平移台和硅光电二极管探测器,探测光纤的固定架置于电动平移台上,通过电动平移台移动探测光纤,由探测光纤采集的漫反射混合光信号经由硅光电二极管探测器转换成电信号;计算机对由数据采集部分输入的数字信号,进行数字锁相和曲线拟合,并重构出光学参数。本发明能够实现不同波长下组织体的快速,无创的离体或在体测量。
搜索关键词: 混沌 介质 光学 参数 波长 空间 分辨 测量方法 装置
【主权项】:
一种混沌介质光学参数多波长空间分辨锁相测量装置,包括光源部分,探测部分,数据采集部分和计算机,其中,光源部分:包括多个不同近红外波长的激光器、多通道直接数字合成正弦信号调制器、单模光纤;每个激光器由半导体激光二极管(LD)及其相应的驱动组成,多通道直接数字合成(DDS)正弦信号调制器,各个激光器产生的不同波长的近红外激光经由单模光纤输出;探测部分:包括源光纤束及其固定架、探测光纤及其固定架、电动平移台和硅光电二极管探测器;源光纤束与单模光纤相连,用于传导照射到混沌介质表面的入射光,探测光纤用于传导由混沌介质表面反射的漫反射混合光信号,探测光纤的固定架置于电动平移台上,通过电动平移台移动探测光纤;由探测光纤采集的漫反射混合光信号经由硅光电二极管探测器转换成电信号;数据采集部分:用于对经过转换的电信号进行采集并进行模数转换;计算机:对由数据采集部分输入的数字信号,进行数字锁相和曲线拟合,并重构出光学参数:吸收系数和约化散射系数。
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