[发明专利]一种超材料结构单元参数仿真选取方法及装置有效
| 申请号： | 201110390831.0 | 申请日： | 2011-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN103136396A | 公开（公告）日： | 2013-06-05 |
| 发明（设计）人： | 刘若鹏;季春霖;刘斌;易翔 | 申请（专利权）人： | 深圳光启高等理工研究院 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 何青瓦 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种超材料结构单元参数仿真选取方法及装置。该超材料结构单元参数仿真选取方法包括步骤：获取结构单元的几何参数及几何参数的取值范围；根据几何参数的取值范围划分第一区域和第二区域；对第一区域内的几何参数进行正交设计，获取第一实验集合；对第二区域内的几何参数进行均匀设计，获取第二实验集合。本发明的超材料结构单元参数仿真选取方法及装置，在保证实验点选取的空间“代表性”的同时，能较快、较准确地找到符合初始实验假设的超材料的电磁特性所对应的结构单元的参数，减少实验次数，提高了工作效率并节约了实验成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 材料 结构 单元 参数 仿真 选取 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种超材料结构单元参数仿真选取方法，其特征在于，所述超材料结构单元参数仿真选取方法包括步骤：获取所述结构单元的几何参数及所述几何参数的取值范围；根据所述几何参数的取值范围划分第一区域和第二区域；对所述第一区域内的几何参数进行正交设计，获取第一实验集合；对所述第二区域内的几何参数进行均匀设计，获取第二实验集合。
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