[发明专利]一种阵列天线方向图的频域测量方法

摘要

一种阵列天线方向图的频域测量方法，属于天线技术领域。本发明首先对阵列天线单元方向图测量，利用均匀平面波照从不同角度(θ，φ)照射阵列，利用矢量网络分析仪获取阵列各个阵列单元在平面波照射下的频域响应得到该频率响应便是阵列单元在等幅同相激励下的方向图最后利用数字信号处理技术，应用阵列天线单元方向图叠加原理，合成任意给定激励下的阵列方向图本发明：1)在阵列环境下进行，有利于阵列方向图的精确合成；2)可以测量出阵列在任意给定激励下的方向图；3)还可综合出阵列扫描增益方向图，更有利于获取最大增益分布区域和扫描盲点分布。本发明具有操作简单、测试效率高的特点，同时还大大缩减了对场地要求，降低了测试成本。

主权项

1.一种阵列天线方向图的频域测量方法，包括以下步骤：步骤1：在微波暗室环境中，利用矢量网络分析仪产生频域信号，该频域信号经照射天线向金属反射面发射并由金属反射面反射形成紧缩场平面波，利用该紧缩场平面波照射待测阵列天线；步骤2：利用矢量网络分析仪，测量在紧缩场平面波到待测阵列天线的初始入射角度(θ₀，φ₀)下，待测阵列天线各个阵列单元的散射系数值S₂₁，记为其中n＝1，2，3，....N，N为待测阵列天线的阵列单元总数；步骤3：改变紧缩场平面波到待测阵列天线的入射角度，记录紧缩场平面波到待测阵列天线的入射角(θ_i，φ_j)，结合步骤2测量每个入射角下待测阵列天线各个阵列单元的散射系数值S₂₁，记为步骤4：由于每个入射角下待测阵列天线各个阵列单元的散射系数值就是待测阵列天线第n个阵列单元的在入射角下(θ_i，φ_j)的频率响应即所以由待测阵列天线第n个阵列单元的频率响应得到待测阵列天线第n个阵列单元的方向图步骤5：利用公式：合成任意给定激励下的待测阵列天线的方向图其中为待测阵列天线设计时给定的第n个阵列单元的激励加权值，且其中|a_n|为幅度加权值，为相位加权值。