[发明专利]源、掩模和投影光学装置的优化流程有效

专利信息
申请号: 201110353099.X 申请日: 2011-11-09
公开(公告)号: CN102540754A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 徐端孚;陈洛祁;冯函英;R·C·豪威尔;周新建;陈逸帆 申请(专利权)人: ASML荷兰有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G03F1/36
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 吴敬莲
地址: 荷兰维*** 国省代码: 荷兰;NL
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种源、掩模和投影光学装置的优化流程。本发明的实施例提供用于优化光刻投影设备的方法,所述方法包括优化其中的投影光学装置。当前的实施例包括几个流程,包括优化源、掩模和投影光学装置和各种连续的且迭代的优化步骤,其将投影光学装置、掩模和源任意组合。投影光学装置有时被广义地称作为“透镜”,因此优化过程可以用术语源掩模透镜优化来表示。源掩模透镜优化可能相对于已有的源掩模优化过程或其它优化过程是被期望的,该其它的优化过程不包括投影光学装置优化,部分原因在于将投影光学装置包括在优化中可能通过引入投影光学装置的多个可调节的特性导致更大的过程窗口。投影光学装置可以用于对光刻投影设备中的波前成形,使得能够对整个成像过程进行像差控制。
搜索关键词: 投影 光学 装置 优化 流程
【主权项】:
一种用于利用光刻投影设备改进用于将设计布局的一部分成像到衬底上的光刻过程的方法,所述光刻投影设备包括照射源和投影光学装置,所述方法包括步骤:从所述设计布局的所述部分选取一子组图案且选取初始的照射源;同时优化所述子组图案和所述照射源;和通过利用所述优化的照射源来优化所述投影光学装置的特性。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于ASML荷兰有限公司,未经ASML荷兰有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110353099.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top