[发明专利]从形状记忆合金元件的电阻特征确定热传递条件的方法有效
| 申请号： | 201110343409.X | 申请日： | 2011-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN102564488A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | X.高;A.L.布朗;N.L.约翰森;G.A.赫里拉;G.P.麦克奈特;L.郝;A.C.基夫;C.P.亨利 | 申请（专利权）人： | 通用汽车环球科技运作有限责任公司 |
| 主分类号： | G01D21/00 | 分类号： | G01D21/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 葛青 |
| 地址： | 美国密*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 检测围绕形状记忆合金元件的周围环境热传递条件的方法包括加热形状记忆合金元件、检测形状记忆合金元件的电阻和测量用于加热形状记忆合金元件到电阻特征的预定水平的时间段。通过参考在用于加热形状记忆合金元件到电阻特征的预定水平的时间段和周围环境热传递条件之间的关系，计算围绕形状记忆合金元件的周围环境热传递条件。 | ||
| 搜索关键词： | 形状 记忆 合金 元件 电阻 特征 确定 传递 条件 方法 | ||
【主权项】：
一种检测周围环境热传递条件的方法，所述方法包括：加热形状记忆合金元件；检测所述形状记忆合金元件在一时间段内的电阻；测量用于加热所述形状记忆合金元件直到电阻特征达到预定水平的时间段；从所述测量的用于加热所述形状记忆合金元件到所述电阻特征的所述预定水平的时间段，计算与所述形状记忆合金元件相邻的周围环境热传递条件。
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