[发明专利]一种基于理想化细胞半径定量测量细胞铺展速率的方法无效

专利信息
申请号: 201110318629.7 申请日: 2011-10-19
公开(公告)号: CN102507580A 公开(公告)日: 2012-06-20
发明(设计)人: 陈勇;邵文祥;黄洁;曾芳发 申请(专利权)人: 南昌大学
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84
代理公司: 南昌新天下专利商标代理有限公司 36115 代理人: 施秀瑾
地址: 330031 江西省*** 国省代码: 江西;36
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摘要: 一种基于理想化细胞半径定量测量细胞铺展速率的方法,其特征是将处于悬浮状态的贴壁细胞种植在培养孔或板上,在细胞贴壁和铺展过程中,使用成像设备,捕获细胞在不同时间点的形貌图,测量出每个细胞的贴壁面积,将铺展前后细胞的形态理想化为圆形,并按计算出细胞铺展速率(单位时间内细胞半径的增长速率)。本发明以理想化的细胞半径为标准,根据细胞铺展所用时间和细胞半径的变化而计算出来的铺展速率,解决了传统方法的缺点,比传统的细胞铺展测量方法要更加精确,且需测量设备简单,计算方法同样简单、可行,也易于整合到测量设备中去。
搜索关键词: 一种 基于 理想化 细胞 半径 定量 测量 铺展 速率 方法
【主权项】:
1.一种基于理想化细胞半径定量测量细胞铺展速率的方法,其特征是将处于悬浮状态的贴壁细胞种植在培养孔或板上,在细胞贴壁和铺展过程中,使用成像设备,捕获大量细胞在不同时间点的形貌图,测量出每个细胞的贴壁面积,并按下式计算出细胞铺展速率:其中,Rs表示细胞的铺展速率;Tn+1表示细胞贴壁后铺展的n+1时刻,Tn表示细胞贴壁后铺展的n时刻;An+1表示细胞铺展过程中的n+1时刻单个细胞的贴壁面积或所有细胞的贴壁面积的平均值,An表示细胞铺展过程中的n时刻单个细胞的贴壁面积或所有细胞的贴壁面积的平均值。
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