[发明专利]光检测装置及用于该光检测装置的光学滤光器无效
| 申请号： | 201110310752.4 | 申请日： | 2011-10-14 |
| 公开（公告）号： | CN102455215A | 公开（公告）日： | 2012-05-16 |
| 发明（设计）人： | 中原健;赤坂俊辅;坂本晃辉;藤井哲雄;古瀬骏介;有村聪一郎 | 申请（专利权）人： | 罗姆股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42;G01J1/04;G02B5/22;G02B1/02 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 刘晓迪 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种能够有选择地、高灵敏度地检测特定波长区域的光的光检测装置及用于该光检测装置的光学滤光器。在支承基板上形成有两个受光元件。第一受光元件由p型层、n型层、光吸收半导体层、阳极电极、阴极电极、保护膜等构成。第二受光元件由p型层、n型层、透射膜、阳极电极、阴极电极、保护膜等构成。吸收波长范围为λ的光的光吸收半导体层配置在比pn结区域更靠受光面侧的位置。不存在光的吸收区域的透射膜配置在比pn结区域更靠受光面侧的位置。通过计算第一受光元件的检测信号和第二受光元件的检测信号，计测波长范围为λ的光量。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 装置 用于 光学 滤光 | ||
【主权项】：
一种光检测装置，具备通过光电变换进行光的检测的多个光检测部，其特征在于，至少具备：第一光检测部，其在比光电变换区域更靠受光面侧的位置具有吸收波长范围为λ的光的光吸收半导体层；第二光检测部，其在比光电变换区域更靠受光面侧的位置具有不存在光的吸收区域的透射膜，通过计算所述第一光检测部的信号和所述第二光检测部的信号来计测波长范围为λ的光量。
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