[发明专利]试样分析方法及试样分析装置有效
| 申请号： | 201110290915.7 | 申请日： | 2006-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN102519887A | 公开（公告）日： | 2012-06-27 |
| 发明（设计）人： | 山本典正;松尾直彦 | 申请（专利权）人： | 希森美康株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31;G01N35/00 |
| 代理公司： | 北京市安伦律师事务所 11339 | 代理人： | 刘良勇 |
| 地址： | 日本兵库县神户市*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种试样分析方法，具备步骤：向标本照射光线、从所述标本中获取标本光学信息；通过分析所述标本光学信息计算出所述标本的吸光度，比较计算出的吸光度和临界值，以此分析所述标本中是否含有干扰物质以及干扰物质的种类和含量；将所述标本与试剂混合、调制分析用试样；以及向所述分析用试样照射光线，从分析用试样获取试样光学信息，并通过处理试样光学信息，对分析用试样进行分析，其中，在对分析用试样进行分析这一步骤中，根据所述标本中是否含有干扰物质以及干扰物质的种类和含量，选择适合分析用的光的波长，并对与选择的波长的光相应的试样光学信息进行处理，以此分析所述分析用试样。本发明还提供一种试样分析装置。 | ||
| 搜索关键词： | 试样 分析 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种试样分析方法，具备以下步骤：向标本照射光线、从所述标本中获取标本光学信息的步骤；通过分析所述标本光学信息计算出所述标本的吸光度，比较计算出的吸光度和临界值，以此分析所述标本中是否含有干扰物质以及干扰物质的种类和含量的步骤；将所述标本与试剂混合、调制分析用试样的步骤；以及向所述分析用试样照射光线，从分析用试样获取试样光学信息，并通过处理试样光学信息，对分析用试样进行分析的步骤，其中，在对分析用试样进行分析这一步骤中，根据所述标本中是否含有干扰物质以及干扰物质的种类和含量，选择适合分析用的光的波长，并对与选择的波长的光相应的试样光学信息进行处理，以此分析所述分析用试样。
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