[发明专利]非接触数据存储设备的检测有效
申请号: | 201110287107.5 | 申请日: | 2011-09-26 |
公开(公告)号: | CN102542224A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 彼特·豪斯曼;马塞·普拉斯;马提亚·施瑙贝尔特 | 申请(专利权)人: | 励智识别技术有限公司 |
主分类号: | G06K7/00 | 分类号: | G06K7/00 |
代理公司: | 北京中安信知识产权代理事务所(普通合伙) 11248 | 代理人: | 张小娟 |
地址: | 瑞士维*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
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摘要: | 用于检测天线通信范围内的非接触数据存储设备,该设备被构造用以与天线发射的电磁场电感耦合,在电磁场脉冲发射过程中于天线处检测反馈信号(S1)。在电磁场脉冲开始时载波振荡的振幅增长过程中,基于反馈信号产生评价信号(S2),并基于评价信号检测数据存储设备(S3)。通过基于振幅增长过程中产生的评价信号检测数据存储设备的存在,数据存储设备的检测能够在电磁场脉冲的载波振荡稳定之前开始。因此,电磁场脉冲的宽度能够被缩短,由此,用于检测数据存储设备存在的能量消耗能够被降低。 | ||
搜索关键词: | 接触 数据 存储 设备 检测 | ||
【主权项】:
一种检测用于发射电磁场(3)的天线的通信范围内非接触数据存储设备(2)的检测电路(10),该非接触数据存储设备被构造用以与电磁场(3)进行电感耦合,检测电路(10)具有用于连接天线(4)和用于电磁场脉冲(30)发射期间检测天线(4)处的反馈信号的连接器,其中检测电路(10)进一步被构造用以在电磁场脉冲(30)开始时载波振荡的振幅增长(ta)过程中基于反馈信号产生评价信号,并基于振幅增长(ta)过程中产生的评价信号和阈值检测通信范围内的数据存储设备(2)。
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