[发明专利]晶体材料光吸收系数的测量方法无效
| 申请号： | 201110254195.9 | 申请日： | 2011-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN102435583A | 公开（公告）日： | 2012-05-02 |
| 发明（设计）人： | 沈华;朱日宏;李建欣;陈磊;何勇;高志山;王青;张志聪;黄亚 | 申请（专利权）人： | 南京理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人： | 朱显国 |
| 地址： | 210094 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及光吸收系数测量领域，特别是一种晶体材料光吸收系数的测量方法；抽运激光照射装置起到了热变透镜效应中激励光的作用，通过高功率的抽运光入射到晶体表面，使其产生热形变；干涉仪发射出一个标准平面波其通过被抽运激光作用的晶体表面后，平面反射镜将标准平面波按原路反射回来，这时干涉仪接收到是携带有两次晶体表面形貌信息的波阵面，利用相位解包算法算出因抽运光的照射引起的晶体表面形变量，通过公式算出晶体材料的光吸收系数；本发明设计原理科学，设计合理，各部件加工方便，测量精度高。 | ||
| 搜索关键词： | 晶体 材料 光吸收 系数 测量方法 | ||
【主权项】：
一种晶体材料光吸收系数的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、将高功率的抽运光入射到晶体（2）表面，使其产生热形变；步骤2、用干涉仪发射出一个标准平面波，平面波通过被抽运激光作用的晶体（2）表面后，经平面反射镜（4）将平面波按原路反射回来，再次经过晶体（2）表面后进入干涉仪（5），并与标准平面波相遇发生干涉，得到干涉图；其中干涉仪与晶体（2）的角度和平面反射镜（4）与晶体（2）的角度相同；步骤3、根据干涉图，通过相位解包算法得到晶体（2）表面的热形变量，通过建立晶体热形变与吸收系数的理论模型得到晶体的吸收系数。
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