[发明专利]BIOS测试治具及使用其进行BIOS测试的方法无效

专利信息
申请号: 201110246248.2 申请日: 2011-08-25
公开(公告)号: CN102955724A 公开(公告)日: 2013-03-06
发明(设计)人: 王庆康;林军嘉 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种BIOS测试治具,用于接入及测试BIOS启动模块,该BIOS启动模块具有BMC,主要BIOSROM,备份BIOSROM及南桥芯片。BIOS测试治具包括切换开关、主要BIOS档、备份BIOS档、BMC芯片、第一LED及第二LED;主要BIOS档及备份BIOS档分别与切换开关及BMC芯片连接;切换开关选择主要BIOS档或备份BIOS档使南桥芯片切换BIOS;当南桥芯片加载主要BIOSROM时,南桥芯片驱动第一LED亮,第二LED熄灭;当南桥芯片通过BMC加载备份BIOSROM时,南桥芯片驱动第二LED亮,第一LED熄灭。另提供一种使用该BIOS测试治具进行BIOS测试的方法。
搜索关键词: bios 测试 使用 进行 方法
【主权项】:
一种BIOS测试治具,用于接入及测试一BIOS启动模块,该BIOS启动模块具有BMC,主要BIOS ROM,备份BIOS ROM,第一CPLD,第二CPLD及南桥芯片,其特征在于:该BIOS测试治具包括切换开关、主要BIOS档、备份BIOS档、BMC芯片、第一LED及第二LED;该切换开关电性连接至备份BIOS档及主要BIOS档并可以选择性的将主要BIOS档或备份BIOS档与第一CPLD,第二CPLD及南桥芯片建立电性连接,该主要BIOS档及备份BIOS档与BMC芯片电性连接;切换开关选择主要BIOS档或备份BIOS档使南桥芯片切换BIOS;南桥芯片电性连接至第一LED及第二LED;当南桥芯片加载主要BIOS ROM时,南桥芯片驱动第一LED亮,第二LED熄灭;当南桥芯片通过BMC加载备份BIOS ROM时,南桥芯片驱动第二LED亮,第一LED熄灭。
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