[发明专利]一种温度熔断器组件的试验方法有效
| 申请号： | 201110216650.6 | 申请日： | 2011-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN102288910A | 公开（公告）日： | 2011-12-21 |
| 发明（设计）人： | 鲍德君 | 申请（专利权）人： | 海信容声（广东）冰箱有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 林丽明 |
| 地址： | 528303 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于温度熔断器温度70℃或电流10A保护性功能熔断之外的温度熔断器组件使用状态寿命的测试方法，寿命特征的数学表达式= B×CT×D²×r，其中B为温度系数，温度在熔断器组件保护熔断温度70℃与工作温度范围-35℃~9℃之间；CT为累积通电时间，其中C为化霜次数，单位为次，T为时间，单位为min；D为负载电流，单位为A；r为熔断器内阻，单位为Ω，取r≤0.1Ω；分别计算熔断器组件模拟试验的寿命特征和熔断器组件工作的寿命特征，当熔断器组件模拟试验的寿命大于熔断器组件的工作寿命，且两者的比值大于1.5时，温度熔断器组件不被熔断，即试验结果有效。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 温度 熔断器 组件 试验 方法 | ||
【主权项】：
一种温度熔断器组件的试验方法，用于温度熔断器温度70℃或电流10A保护性功能熔断之外的使用状态寿命的测试方法，其特征在于：该试验方法包括温度系数、累积通电时间和功率三大试验条件，寿命特征的数学表达式 = B × CT× D²× r ‑‑‑ (1)式（1）中B为温度系数，温度在熔断器组件保护熔断温度70℃与工作温度范围‑35℃~ 9℃之间；CT为累积通电时间,其中C为化霜次数，单位为次，T为时间，单位为min；D 为负载电流，单位为A；r为熔断器内阻，单位为Ω，取r≤ 0.1Ω；分别计算熔断器组件模拟试验的寿命特征和熔断器组件工作的寿命特征，当熔断器组件模拟试验的寿命大于熔断器组件的工作寿命，且两者的比值大于1.5时，温度熔断器组件不被熔断，即试验结果有效。
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