[发明专利]介质阻挡放电微等离子体诱导的蒸发进样方法无效

专利信息
申请号: 201110207416.7 申请日: 2011-07-25
公开(公告)号: CN102353799A 公开(公告)日: 2012-02-15
发明(设计)人: 朱振利;刘志付;郑洪涛;吴青菊;胡圣虹 申请(专利权)人: 中国地质大学(武汉)
主分类号: G01N35/10 分类号: G01N35/10;H05H1/24
代理公司: 武汉华旭知识产权事务所 42214 代理人: 江钊芳
地址: 430074 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及一种介质阻挡放电微等离子体诱导的蒸发进样方法,其步骤是:先准备一套产生微等离子体的介质阻挡放电装置,包括电源、开关、两同心圆筒管结构的绝缘介质层、两个电极、进气口和蒸汽出口;放电室在两绝缘介质层之间;外电极包在外层圆筒管外,内电极插在内层圆筒管内,两电极与电源相连;然后将溶液态样品加到离心管中,取出介质阻挡放电装置中内层圆筒管插到离心管内,采样后再插回装置中,通入载气,接通电源,样品被介质阻挡放电产生的微等离子体解吸附,产生的蒸汽在载气的吹扫下从蒸汽出口进入检测仪器检测,整个流程只需90s完成。本方法操作方便,无需样品处理,功耗低、快速,尤其适合小体积样品及痕量及超痕量元素的分析。
搜索关键词: 介质 阻挡 放电 等离子体 诱导 蒸发 方法
【主权项】:
一种介质阻挡放电微等离子体诱导的蒸发进样方法,其特征在于:按如下步骤: (1)准备一套产生微等离子体的介质阻挡放电装置,包括电源、开关、两层绝缘介质层及两个电极,所述两绝缘介质层为同心圆筒管结构,两绝缘介质层的圆筒管间距为1mm~5mm,放电室在两绝缘介质层之间;外电极包在外层圆筒管外面,内电极插在内层圆筒管内,两个电极与高压高频电源相连, 所述的外层圆筒管上还设有进气口,蒸汽出口设在放电室一端;(2)取溶液态待测样品,先将溶液样品加入到离心管中; (3)将内层的圆筒管插入到离心管中,采样10s;(4)将载有样品的内层的圆筒管插回外层圆筒管中;(5)选择放电气体,放电气体为Ar、He、N2惰性气体或者是Ar、He、N2惰性气体与H2的混合气体,放电气体流速控制为10ml/min~1000ml/min; (6)选择电源,电压为220V~10000V,频率为50Hz~50MHz,将电源开关K接通;样品被介质阻挡放电产生的微等离子体解吸附,产生的蒸汽在载气的吹扫下从蒸汽出口进入检测仪器进行检测。
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