[发明专利]一种多通道光器件的损耗测试装置有效

专利信息
申请号: 201110191905.8 申请日: 2011-07-08
公开(公告)号: CN102201864A 公开(公告)日: 2011-09-28
发明(设计)人: 宋琼辉;谭书伟;罗勇;何俊 申请(专利权)人: 武汉光迅科技股份有限公司
主分类号: H04B10/08 分类号: H04B10/08
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 杜文茹
地址: 430074 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种多通道光器件的损耗测试装置包括:光源模块,用于提供多种波长的稳定功率的激光;光放大模块,对回波损耗测试的光源放大并平均分配为多个通道;光功率探测模块,用于测量待测光器件输出端的光功率以及待测光器件输出端的回波损耗;偏振控制器,用于改变输入光源的偏振状态;光源监控模块,用于检测光源的稳定性并测试器件公共端的回波损耗;光开关,用于选择多种波长的激光中的一路输出;单片机及通信模块用于控制光开关的切换通道,偏振控制器对激光偏振态的改变以及接收光功率探测模块和光源监控模块测得的数据并对其进行处理。采用本发明的损耗测试装置可以很大程度提高针对多通道光器件的各项指标测试效率。
搜索关键词: 一种 通道 器件 损耗 测试 装置
【主权项】:
一种多通道光器件的损耗测试装置,其特征在于:由光源模块(1)、光放大模块(2)、光功率探测模块(3)、偏振控制器(4)、光源监控模块(5)、光开关(6)、单片机及通信模块(7)组成;光源模块(1),用于提供多种波长的稳定功率的激光;光放大模块(2),对回波损耗测试的光源放大并平均分配为多个通道;光功率探测模块(3),用于测量待测光器件输出端的光功率以及待测光器件输出端的回波损耗;偏振控制器(4),用于改变输入光源的偏振状态;光源监控模块(5),用于检测光源的稳定性并测试器件公共端的回波损耗;光开关(6),用于选择多种波长的激光中的一路输出;单片机及通信模块(7)用于控制光开关(6)的切换通道,偏振控制器(4)对激光偏振态的改变以及接收光功率探测模块(3)和光源监控模块(5)测得的数据并对其进行处理。其中:该光源模块中的多波长光源输出端连接至光开关(6)的输入端,光开关(6)输出端接偏振控制器(4)的输入端,偏振控制器(4)的输出端接光源监控模块(5)的输入端,光源监控模块(5)的输出端连接待测光器件(8)的输入端,待测光器件(8)的输出端同光功率探测模块(3)的光功率检测端口相连接;采用光源模块其中一路光源连接光放大模块(2)的输入端,光放大模块(2)的输出端接光功率探测模块(3)的光源输入端口,单片机及通信模块(7)分别与光放大模块(2)、光功率探测模块(3)、偏振控制器(4)、光源监控模块(5)、光开关(6)相连。
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