[发明专利]磁共振成像装置及磁共振成像方法有效
申请号: | 201110185729.7 | 申请日: | 2011-07-01 |
公开(公告)号: | CN102309325A | 公开(公告)日: | 2012-01-11 |
发明(设计)人: | 大川真史 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝医疗系统株式会社 |
主分类号: | A61B5/055 | 分类号: | A61B5/055 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 杨谦;胡建新 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一实施方式的MRI装置具备测量梯度磁场线圈单元的温度的温度测量部、数据部、脉冲设定部、和摄像部。在数据部中,预先记录有表示氢原子的磁共振的中心频率与梯度磁场线圈单元内的温度变化相对应地偏移了多少的偏移数据。脉冲设定部根据基于温度测量部的测量结果的梯度磁场线圈的温度变化量、和偏移数据,决定氢原子的磁共振的中心频率的推定偏移量,基于推定偏移量修正RF脉冲的中心频率。摄像部发送修正后的RF脉冲,从被检体接收磁共振信号,基于磁共振信号生成被检体的图像数据。 | ||
搜索关键词: | 磁共振 成像 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种磁共振成像装置,其特征在于,具备:梯度磁场线圈单元,使得在摄像空间产生与供给电流相对应的梯度磁场;温度测量部,以不同的定时至少测量两次上述梯度磁场线圈单元的温度;数据部,在上述温度测量部进行测量前预先记录有偏移数据,该偏移数据表示上述摄像空间内的氢原子的磁共振的中心频率与上述梯度磁场线圈单元的温度变化相对应地偏移了多少;脉冲设定部,取得上述温度测量部的测量结果,根据基于上述测量结果的上述梯度磁场线圈的温度变化量、和上述偏移数据,决定上述氢原子的磁共振的中心频率的推定偏移量,基于上述推定偏移量修正RF脉冲的中心频率;以及摄像部,发送上述脉冲设定部修正后的上述RF脉冲,从上述摄像空间内的被检体接收磁共振信号,基于上述磁共振信号生成上述被检体的图像数据。
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