[发明专利]一种适用于PSVA与阵列的测试电路无效

专利信息
申请号: 201110185553.5 申请日: 2011-07-04
公开(公告)号: CN102306479A 公开(公告)日: 2012-01-04
发明(设计)人: 陈政鸿 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 广东国晖律师事务所 44266 代理人: 陈琳
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及LCD技术领域,尤其涉及一种适用于PSVA与阵列的测试电路。本发明适用于PSVA与阵列的测试电路,包括栅极线讯号线路、数据线讯号线路、第一焊盘和薄膜晶体管,所述栅极线讯号线路和所述数据线讯号线路的延伸线分别连接各自对应的薄膜晶体管的漏极,所述数据线讯号线路所对应的薄膜晶体管的源极彼此连接,并与第一焊盘相连,所述数据线讯号线路所对应的薄膜晶体管的栅极连接至基板上的涂布结构;所述栅极线讯号线路所对应的薄膜晶体管的源极与栅极彼此连接,并连接至基板上的涂布结构。相较于现有的适用于PSVA与阵列的测试电路,本发明提供的技术方案能有效的减少玻璃边缘焊盘的数目,简化整体线路的复杂度。
搜索关键词: 一种 适用于 psva 阵列 测试 电路
【主权项】:
一种适用于PSVA与阵列的测试电路,包括栅极线讯号线路和数据线讯号线路,其特征在于,还包括第一焊盘和薄膜晶体管,所述栅极线讯号线路和所述数据线讯号线路的延伸线分别连接各自对应的薄膜晶体管的漏极,所述数据线讯号线路所对应的薄膜晶体管的源极彼此连接,并与第一焊盘相连,所述数据线讯号线路所对应的薄膜晶体管的栅极连接至基板上的涂布结构;所述栅极线讯号线路所对应的薄膜晶体管的源极与栅极彼此连接,并连接至基板上的涂布结构。
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