[发明专利]阵列测试装置无效
| 申请号： | 201110184871.X | 申请日： | 2011-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN102565564A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 方圭龙;郑东贤 | 申请（专利权）人： | 塔工程有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/02;G01R1/067 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 张文;郭放 |
| 地址： | 韩国庆*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本文公开一种阵列测试装置，其包括多个探针棒，在所述多个探针棒上以不同布置类型设置有探针引脚。所述阵列测试装置能够以控制探针棒相对于玻璃面板的位置这样的简单方式来有效地测试电极位置和布置类型有所不同的各种类型的玻璃面板。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种具有探针组件的阵列测试装置，所述探针组件包括：第一探针棒，所述第一探针棒设置为能够相对于玻璃面板调整位置，其中在所述第一探针棒上以预定的布置类型设置有多个探针引脚；以及第二探针棒，所述第二探针棒设置为能够独立于所述第一探针棒而相对于所述玻璃面板调整位置，其中在所述第二探针棒上以与所述第一探针棒的所述多个探针引脚的布置类型不同的布置类型设置有多个探针引脚。
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